Congrès International du CIM
Le Congrès International de métrologie (CIM) est un évènement unique en Europe, vitrine des solutions pratiques, des avancées R&D et des perspectives industrielles en métrologie. Les objectifs de cet événement sont l’optimisation des processus de mesures, d’analyses et d’essais, le suivi des évolutions des techniques et l’anticipation des avancées R&D. Des conférences et des tables rondes, une exposition des technologies et des solutions de mesure sont au programme de CIM. Retrouvez les chercheurs du CEA-List qui présenteront le 8 septembre l’« Apport de la tomographie X pour les références primaires, relatives aux rayonnements ionisants, ainsi que leurs transferts. »
